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產(chǎn)品中心

新聞中心

  • inTEST 熱流儀半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試
    May 06-2025

    美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可與愛(ài)德萬(wàn) advantest, 泰瑞達(dá) teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程機(jī)聯(lián)用, 進(jìn)行半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試. inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可以快速提供需要的模擬環(huán)境溫度滿足半導(dǎo)體芯片的溫度沖擊和...

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  • inTEST 熱流儀搭配壓力機(jī)進(jìn)行壓力傳感器 MENS 溫度測(cè)試
    May 06-2025

    壓力傳感器 MENS 是由微加工技術(shù)制備, 特征結(jié)構(gòu)在微米尺度 1um~0.1mm 范圍，集成有微傳感器, 微致動(dòng)器, 微電子信號(hào)處理與控制電路等部件的微型系統(tǒng). 80%以上的 MENS 采用硅微工藝進(jìn)行制作, 并且需要在特定...

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  • inTEST 熱流儀腔體濾波器模塊高低溫測(cè)試
    May 06-2025

    inTEST 熱流儀腔體濾波器模塊高低溫測(cè)試 腔體濾波器就是采用諧振腔體結(jié)構(gòu)的微波濾波器. 一個(gè)腔體能夠等效成電感并聯(lián)電容, 從而形成一個(gè)諧振級(jí), 實(shí)現(xiàn)微波濾波功能. 較之其他性質(zhì)的微波濾波器而言, 腔體濾波...

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  • inTEST 閃存 Flash/EMMC 高低溫測(cè)試
    May 06-2025

    inTEST - Temptronic 高低溫循環(huán)測(cè)試機(jī)閃存溫度測(cè)試應(yīng)用： 閃存(Flash Memory)，是非揮發(fā)性內(nèi)存的一種，不需電力來(lái)維持?jǐn)?shù)據(jù)的儲(chǔ)存，可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種，前者用于儲(chǔ)存程序代碼，后者...

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  • 100G 光模塊高低溫測(cè)試
    May 06-2025

    inTEST ATS-710 應(yīng)用于 100G 光模塊高低溫測(cè)試

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  • inTEST 熱流儀通訊模塊高低溫測(cè)試
    May 06-2025

    inTEST ATS-710 通訊模塊高低溫測(cè)試 在通訊模塊中,由于傳輸速率的不斷增加, 在模塊工作的時(shí)候, 很大程度會(huì)出現(xiàn)工作模塊溫度飆升的情況, 為了保障模塊的正常運(yùn)行, 需要進(jìn)行通訊模塊溫度可靠性測(cè)試, 傳統(tǒng)驗(yàn)...

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  • inTEST 熱流儀半導(dǎo)體元器件高低溫測(cè)試
    May 06-2025

    inTEST Thermostream 高低溫測(cè)試機(jī)應(yīng)用于半導(dǎo)體元器件高低溫測(cè)試 半導(dǎo)體器件 semiconductor device, 是導(dǎo)電性介于良導(dǎo)電體與絕緣體之間, 利用半導(dǎo)體材料特殊電特性來(lái)完成特定功能的電子器件, 可用來(lái)產(chǎn)生,...

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  • inTEST ECO-560 經(jīng)濟(jì)型高低溫測(cè)試機(jī)應(yīng)用于研發(fā) 400G 光模塊
    May 06-2025

    inTEST ECO-560 高低溫測(cè)試機(jī)成功應(yīng)用于研發(fā) 400G 光模塊可靠性測(cè)試.

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  • Sigma 高低溫試驗(yàn)箱
    May 06-2025

    美國(guó) inTEST 旗下 Sigma 高低溫試驗(yàn)箱, 提供標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)和客制化型號(hào)供選擇. Sigma 高低溫沖擊試驗(yàn)箱超過(guò)50年的溫度試驗(yàn)箱設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn), 提供各種尺寸形狀的高低溫腔體,測(cè)試溫度范圍 -185 至+500°C, 變溫速率快,...

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  • inTEST 熱流儀照明級(jí)大功率 LED 器件封裝高低溫測(cè)試
    May 06-2025

    美國(guó) inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于照明級(jí)大功率LED器件,LED封裝的可靠性測(cè)試.

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  • inTEST ECO-560 熱流儀,高低溫沖擊測(cè)試機(jī)
    May 06-2025

    美國(guó) inTEST ECO-560 經(jīng)濟(jì)型高低溫沖擊測(cè)試機(jī)中國(guó)總代理! 溫度沖擊范圍: -60 °C 至 +150 °C, 適用于對(duì)各類元件,零件, 混合件, 模塊,子組件和 PCB 電路板進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的溫度沖擊. 與其他熱流儀相比, 占...

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  • inTEST 熱流儀 LED 液晶顯示屏高低溫沖擊測(cè)試
    May 06-2025

    美國(guó) inTEST ThermoStream 高低溫沖擊熱流儀可與德國(guó) AUTRONIC DMS 液晶顯示屏測(cè)量系統(tǒng)聯(lián)用進(jìn)行 LED 環(huán)境溫度測(cè)試. 每個(gè) DMS 系統(tǒng)都可以擴(kuò)展一個(gè)適當(dāng)?shù)睦錈嵯到y(tǒng), 以進(jìn)行 LED 光學(xué)顯示特性和一致性測(cè)試的溫...

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  • inTEST 熱流儀 PCB 板電子芯片高低溫測(cè)試
    May 06-2025

    美國(guó) inTEST 高低溫循環(huán)測(cè)試機(jī) ATS-545-M 應(yīng)用于 PCB 板、電子芯片高低溫測(cè)試。 PCB板、電子芯片在出廠前需要進(jìn)行環(huán)境測(cè)試，模擬PCB板在氣候環(huán)境下操作及儲(chǔ)存的適應(yīng)性，已確保其在極端環(huán)境下也可正常工作...

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  • inTEST 熱流儀集成電路 IC 芯片高低溫沖擊測(cè)試
    May 06-2025

    隨著國(guó)家對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)愈加重視, 國(guó)內(nèi)各高校通過(guò)積極籌備半導(dǎo)體聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室等舉措來(lái)推動(dòng)集成電路的產(chǎn)業(yè)研究和人才教育的發(fā)展, 美國(guó) inTEST ThermoStream熱流儀提供清潔干燥的冷熱循環(huán)沖擊氣流, 可達(dá)到快速精...

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  • inTEST 熱流儀觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測(cè)試
    May 06-2025

    inTEST 熱流儀觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測(cè)試： 觸摸屏控制芯片又稱觸摸屏芯片, 觸控芯片, 屬于半導(dǎo)體芯片一種, 廣泛應(yīng)用于如消費(fèi)類電子, 家用電器, 車(chē)載觸摸屏, 移動(dòng)終端, 智能電網(wǎng), 物聯(lián)網(wǎng)等多個(gè)領(lǐng)域. 觸...

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  • inTEST 熱流儀電源管理芯片高低溫沖擊測(cè)試
    May 06-2025

    電源管理芯片由于多是在狹小空間內(nèi)工作, 散熱的條件不好, 大多是在高溫的環(huán)境中長(zhǎng)時(shí)間工作, 電源芯片經(jīng)常經(jīng)歷快速升溫的情況, 甚至經(jīng)歷在電壓不穩(wěn)時(shí)快速變溫的情況, 所以電源芯片在出廠時(shí)需要經(jīng)過(guò)測(cè)試芯片...

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  • inTEST 熱流儀搭配 Keysight 進(jìn)行功率器件高低溫測(cè)試
    May 06-2025

    inTEST 熱流儀搭配 Keysight 進(jìn)行功率器件自動(dòng)化高低溫測(cè)試 美國(guó) inTEST 熱測(cè)產(chǎn)品搭配 Keysight 機(jī)臺(tái), 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -100℃ - 350℃ 自動(dòng)化熱測(cè)試解決方案. Ke...

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  • inTEST 高低溫沖擊測(cè)試
    May 06-2025

    inTEST 熱流儀車(chē)載芯片 / 車(chē)規(guī)級(jí)芯片高低溫沖擊測(cè)試 不同于傳統(tǒng)消費(fèi)電子產(chǎn)品, 車(chē)規(guī)芯片前期的開(kāi)發(fā)及驗(yàn)證期可能長(zhǎng)達(dá)3年, 相關(guān)研發(fā)費(fèi)用和時(shí)間成本高昂, 從而需要更快地響應(yīng)不斷變化的車(chē)輛架構(gòu)和嚴(yán)苛的產(chǎn)品上...

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  • inTEST 熱流儀微控制器 MCU 芯片高低溫測(cè)試
    May 06-2025

    inTEST 熱流儀微控制器 MCU 芯片高低溫測(cè)試： 微控制器 MCU 芯片廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子(手機(jī), 打印機(jī)),計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò),工業(yè)控制,醫(yī)療設(shè)備,汽車(chē)電子以及智慧家庭等領(lǐng)域. 其中,汽車(chē)是 MCU 芯片最大的應(yīng)用市場(chǎng),傳統(tǒng)...

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  • inTEST 熱流儀光通信模塊
    May 06-2025

    inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)光通信行業(yè)應(yīng)用: 光纖收發(fā)器 Transceiver 高低溫測(cè)試, SFP 光模塊高低溫測(cè)試

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