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> inTEST 高低溫沖擊熱流儀

inTEST 熱流儀集成電路 IC 芯片高低溫沖擊測試

隨著國家對半導體行業(yè)愈加重視, 國內(nèi)各高校通過積極籌備半導體聯(lián)合實驗室等舉措來推動集成電路的產(chǎn)業(yè)研究和人才教育的發(fā)展, 美國 inTEST ThermoStream熱流儀提供清潔干燥的冷熱循環(huán)沖擊氣流, 可達到快速精準的測試溫度, 適合模擬各種溫度測試和調(diào)節(jié)的應用, 獲得高校普遍認可, 已廣泛參與集成電路研發(fā)重點項目的研究.

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    inTEST 熱流儀應用于集成電路科研項目案例: 國內(nèi)某高校選用 inTEST 高低溫測試機 ATS-545 用于研發(fā)高性能微處理器, 網(wǎng)絡(luò)通信芯片, 功率器件, 藍牙芯片等科研項目. 如工業(yè)級 ICU 芯片要求測試溫度 -40℃ 至 110℃, 溫變速率 -50℃ 至 125℃≤10s, 在帶電情況下, 分別設(shè)置高溫, 常溫, 低溫進行溫度循環(huán).

    ATS-545-M

    溫度范圍 °C: -75 至 + 225(50 HZ)

    變溫速率: -55至 +125°C

                  約 10 S 或更少

                 +125至 -55°C

                 約 10 S 或更少

    輸出氣流量: 4 至 18 scfm

    溫度精度: ±1℃ 通過美國NIST 校準

    溫度顯示分辨率: ±0.1℃

    溫度傳感器: T或K型熱電偶

    防靜電設(shè)計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻

    美國 inTEST 熱流儀通過每秒快速升溫或降溫 18°C, 對 PCB 電路板中的某一單個 IC (模塊) 或整塊集成電路提供準確且快速的環(huán)境溫度. 與傳統(tǒng)高低溫試驗箱不同的是 inTEST 高低溫測試機可針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個 IC (模塊)可單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件.


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