集成電路 IC 卡高低溫測試原因:集成電路 IC 卡在出廠前必須經(jīng)過環(huán)境測試,用來模擬集成電路在不同工作環(huán)境中的性能,inTEST-Temptronic 高低溫測試機憑借封裝級和晶片級集成電路專用高低溫測試機協(xié)助廠商完成例如高低溫循環(huán)測試 Thermal cycle、冷熱沖擊測試 Thermal stock、老化測試等試驗。inTEST-Temptronic 高低溫測試機每秒可快速升溫/降溫 18 度、測試溫度精度高達±1℃,特別適合大規(guī)模集成電路的高低溫電性能檢測。