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技術(shù)文章
1、環(huán)境試驗(yàn)箱構(gòu)造方式： 環(huán)境試驗(yàn)箱選用一體式組成構(gòu)造方式，既環(huán)境試驗(yàn)箱由坐落于上端的高溫試驗(yàn)箱，坐落于下邊的低溫試驗(yàn)箱體，坐落于后側(cè)的冷凍機(jī)組柜和坐落于右邊的家用電器控制箱（系統(tǒng)...
高低溫沖擊試驗(yàn)箱一般由壓縮機(jī)、空調(diào)蒸發(fā)器、冷卻器及管道系統(tǒng)軟件構(gòu)成。制冷系統(tǒng)阻塞一般有臟堵和冰堵二種，油堵較為少見。 1、臟堵 高低溫沖擊試驗(yàn)箱壓縮機(jī)產(chǎn)生損壞，制冷系統(tǒng)內(nèi)有...
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是溫度濕度自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)中的關(guān)鍵機(jī)器設(shè)備，關(guān)鍵開展高低溫試驗(yàn)、環(huán)境濕度實(shí)驗(yàn)，進(jìn)而評(píng)定商品的耐高溫，防水工作能力，以至確保人們的商品在一切自然環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)下可以一切正常工作中，運(yùn)作...
1. LED規(guī)范列表 CNS 5069 單件半導(dǎo)體裝置之環(huán)境檢驗(yàn)法及耐久性檢驗(yàn)法–熱沖擊試驗(yàn) Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test o...
LED交通號(hào)志可靠度試驗(yàn) 編輯搜圖 請(qǐng)點(diǎn)擊輸入圖片描述（*多18字） 嚴(yán)苛的可靠度試驗(yàn)條件項(xiàng)目包含了：電壓電動(dòng)、失效保護(hù)、電磁雜訊、防層防水、高溫試驗(yàn)、振動(dòng)試...
5G光通信模塊的可靠性測(cè)試包括： - 溫度測(cè)試 - 濕度測(cè)試 - 振動(dòng)測(cè)試 - 耐鹽霧測(cè)試 - 耐久性測(cè)試 - 其他測(cè)試 具體的環(huán)境可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是：- JESD22-...
冷熱沖擊試驗(yàn)箱金屬測(cè)試是指在冷熱沖擊試驗(yàn)箱中對(duì)金屬材料進(jìn)行測(cè)試。冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種用于模擬極端溫度變化環(huán)境的設(shè)備，可以通過控制溫度、濕度和時(shí)間等參數(shù)，對(duì)金屬材料的耐冷熱性能進(jìn)行評(píng)估。...
PC平板等各種電子產(chǎn)品在進(jìn)入市場(chǎng)之前都會(huì)經(jīng)過各類測(cè)試，比如高溫高濕測(cè)試項(xiàng)目、快速溫變測(cè)試項(xiàng)目、鹽霧腐蝕測(cè)試項(xiàng)目等等，這些測(cè)試項(xiàng)目使得廠家生產(chǎn)的PC平板等電子產(chǎn)品在可靠性方面有更強(qiáng)的說服力。...
三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱是待測(cè)品動(dòng)態(tài)式冷、熱交替沖擊方式，廣泛使用于電子零組件測(cè)試，汽車零部件，半導(dǎo)體，電子線路板，金屬化學(xué)，材料等測(cè)試設(shè)備。以及生物科技，學(xué)術(shù)研究單位，試驗(yàn)箱下部為低溫蓄冷區(qū)...
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